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正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統(tǒng) 顯微鏡/望遠(yuǎn)鏡

簡要描述：

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統(tǒng)
通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)

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深圳市井澤貿(mào)易有限公司

胡經(jīng)理

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統(tǒng)

NX2000 NX9000

追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析

通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。
采用理想的鏡筒布局，從先進(jìn)材料、先進(jìn)設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結(jié)構(gòu)分析理想的鏡筒布局
融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng)，從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品
通過選配口碑良好的Micro-sampling®系統(tǒng)*和Triple Beam®系統(tǒng)*，可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品

項目		內(nèi)容
SEM	電子源	冷場場發(fā)射型
	加速電壓	0.1 ～ 30 kV
	分辨率	2.1 nm@1 kV
	分辨率	1.6 nm@15 kV
FIB	離子源	鎵
	加速電壓	0.5 ～ 30 kV
	分辨率	4.0 nm@30 kV
	大束流	100 nA
標(biāo)準(zhǔn)探測器		In-colum二次電子探測器/In-colum背散射電子探測器/ 樣品室二次電子探測器
樣品臺	X	0 ～ 20 mm *2
	Y	0 ～ 20 mm *2
	Z	0 ～ 20 mm *2
	θ	0 ～ 360° *2
	τ	-25 ～ 45° *2
大樣品尺寸		正方形邊長6 mm × 厚度2 mm