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正規(guī)銷(xiāo)售hitachi日立掃描電子顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：

正規(guī)銷(xiāo)售hitachi日立掃描電子顯微鏡
只有45厘米寬的緊湊型設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面和電子光學(xué)系統(tǒng)，使性能大幅提升。

咨詢(xún)電話(huà)：0755-28286052

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深圳市井澤貿(mào)易有限公司

胡經(jīng)理

正規(guī)銷(xiāo)售hitachi日立掃描電子顯微鏡

緊湊型設(shè)計(jì)，分辨率為4 nm*1
通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器，背散射探測(cè)器，低真空探測(cè)器（UVD*2），實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
操作簡(jiǎn)捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野
大窗口（30 mm2）SDD能譜系統(tǒng)，便于快速分析元素成分

項(xiàng)目		內(nèi)容
分解能*3		4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） 15.0 nm @ 1 kV （SE：高真空模式） 5.0 nm @ 20 kV （BSE：低真空模式）
加速電壓		0.3 kV ～ 20 kV
放大倍率		6× ～ 300,000× （底片倍率） 16× ～ 800,000× （顯示倍率）
低真空模式		真空范圍：6 ～ 100 Pa
電子槍		預(yù)對(duì)中鎢燈絲
樣品臺(tái)		3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～＋90°
大樣品尺寸		直徑80 mm
大樣品高度		40 mm
尺寸		主機(jī)：450（W） x 640（D） x 670（H） mm 供電單元：450（W） x 640（D） x 450（H） mm
探測(cè)器選配		高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器（UVD）能量分散型X線(xiàn)探測(cè)器（EDS）