HED型Wafer/ESD/TCP試驗機阪和電子工業(yè) 本裝置能夠測量以往TLP無(wú)法覆蓋的高電壓、大電流特性,在獲取、分析高耐壓元件的動(dòng)作參數上發(fā)揮作用。
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查看詳細介紹高性能靜電破壞試驗裝置HANWA阪和電子工業(yè) 全自動(dòng)靜電破壞裝置的高功能版登場(chǎng) 可以進(jìn)行符合標準的測試(JEDEC、ESDA、AEC及JE的。短路使電感和電容對數據的影響小化。 此外,通過(guò)使用單一電路,可以保證被測試的各調試數據的穩定性。
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