TOF-4R05HUD-YAMABUN山文離線厚度測試儀
TOF-4R05HUD-YAMABUN山文離線厚度測試儀
TOF-4R05HUD-YAMABUN山文離線厚度測試儀
產(chǎn)品特點：
輕松快速離線厚度測量
測量數(shù)據(jù)實時顯示在畫面上
測量數(shù)據(jù)保存也可以自動保存在電腦上
自動搬運測量，測量數(shù)據(jù)沒有個人差異
規(guī)格：
測量厚度 0.03～3 mm
測量長度 10～10000 mm
測量間距 1 mm～
最小顯示值 0.5 μm
測量壓力 0.6±0.1 N
電源電壓 AC100～240V 50/60Hz
使用溫度范圍 5～40℃
濕度 35～80％（無結(jié)露）
功耗 50 VA（電腦除外）
選項卡頁面上創(chuàng)建或編輯條目 ?卷筒紙打印機輸出功能
?0.1mm螺距測量功能
?連續(xù)測量功能
?各特殊測量符
?圖像傳送功能
?座椅按壓機構(gòu)
?顯示搬運速度
YAMABUN山文臺式離線接觸式膠片厚度測試儀
測厚儀的種類很多，根據(jù)不同的工作原理和應用場景，以下是幾種常見的測厚儀原理：
超聲波測厚儀：根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的9。
激光測厚儀：利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器1。
X射線測厚儀：利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器1。
紙張測厚儀：比較適合4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量1。
薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點
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