YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線光學(xué)膜厚度測(cè)厚儀

檢測(cè)材料：電子·光學(xué)用透明平滑薄膜、多層薄膜，光學(xué)膜

YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線光學(xué)膜厚度測(cè)厚儀

實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（±0.01μm以下，根據(jù)對(duì)象物及測(cè)量條件）

不易受溫度變化的影響

研究·檢查用的離線類型、制造工序中使用的在線類型都可以制作

因?yàn)槭欠瓷湫?，所以可以從薄膜一?cè)進(jìn)行測(cè)定

只能測(cè)定透明涂布膜層（根據(jù)測(cè)量條件）

光學(xué)膜測(cè)厚儀的主要作用如下：

測(cè)量薄膜厚度：光學(xué)膜測(cè)厚儀能夠直接檢測(cè)出物體透明或者半透明涂層的厚度1。

非接觸式測(cè)量：因?yàn)槭抢霉獾姆绞?，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品5。

快速準(zhǔn)確：測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品5。

多層膜測(cè)量：可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜5。

適用性強(qiáng)：根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品5。

適用場(chǎng)景廣泛：光學(xué)膜測(cè)厚儀適用于大學(xué)、研究室等場(chǎng)所5。

綜上所述，光學(xué)膜測(cè)厚儀在工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和應(yīng)用領(lǐng)域的拓展，光學(xué)膜測(cè)厚儀將繼續(xù)發(fā)揮重要作用，推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展和創(chuàng)新。

光學(xué)膜涂布、太陽(yáng)能晶圓、超薄玻璃、膠帶、光阻等測(cè)量。應(yīng)用在涂膠工序時(shí)，該設(shè)備可放置于涂膠池后、烘箱前，在線測(cè)量涂膠的厚度；也可以在線測(cè)量離型膜涂布的厚度。應(yīng)用甚廣，尤其適合厚度要求達(dá)到納米級(jí)的透明多層物體的厚度測(cè)量。